應(yīng)用案例
當(dāng)前位置:首頁(yè) > 應(yīng)用案例
果果儀器科技(上海)有限公司專精于溫控技術(shù),擁有探針冷熱臺(tái)、光學(xué)冷熱臺(tái)、原位拉伸、原位XRD/SEM冷熱臺(tái)、超高溫?zé)崤_(tái)、高低溫試驗(yàn)箱等多款技術(shù)產(chǎn)品,及介電溫譜、電卡、充放電測(cè)試、變溫D33等測(cè)試系統(tǒng)。原位X射線衍射 (X-ray diffraction, XRD) 可以在電池的充放電循環(huán)過(guò)程中, 實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)電極或電極-電解質(zhì)界面中物相及其晶格參數(shù)的變化過(guò)程,為深入研究電池的工作及失效機(jī)理提供重要視角與數(shù)據(jù)支持。果果儀器的XRD原位鋰電池裝置可以實(shí)現(xiàn)在鋰電池的充放電過(guò)程中原位XRD測(cè)試,以觀察充放電
查看詳情果果儀器科技(上海)有限公司專精于溫控技術(shù),擁有探針冷熱臺(tái)、光學(xué)冷熱臺(tái)、原位拉伸、原位XRD/SEM冷熱臺(tái)、超高溫?zé)崤_(tái)、高低溫試驗(yàn)箱等多款技術(shù)產(chǎn)品,及介電溫譜、電卡、充放電測(cè)試、變溫D33等測(cè)試系統(tǒng)。X射線衍射儀技術(shù)(X-ray diffraction,XRD),通過(guò)對(duì)材料進(jìn)行X射線衍射,分析其衍射圖譜,獲得材料的成分、材料內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息的研究手段。X射線衍射分析法是研究物質(zhì)的物相和晶體結(jié)構(gòu)的主要方法。當(dāng)某物質(zhì)(晶體或非晶體)進(jìn)行衍射分析時(shí),該物質(zhì)被X射線照射產(chǎn)生不同程度的衍射
查看詳情根據(jù)客戶需求,果果儀器為杭州電子科技大學(xué)定制電學(xué)冷熱臺(tái),對(duì)樣品硅片進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)控溫測(cè)試。該定制電學(xué)冷熱臺(tái)是一款針對(duì)研究樣品變溫電學(xué)性能測(cè)試而設(shè)計(jì)的產(chǎn)品,可表征樣品電學(xué)性能隨溫度變化的特征。該定制產(chǎn)品采用電阻加熱,液氮致冷的方式,實(shí)現(xiàn)-190~400℃范圍內(nèi)精準(zhǔn)控制,與其他電學(xué)儀表(如電橋、源表、萬(wàn)用表等)搭配集成,進(jìn)行變溫原位測(cè)試。產(chǎn)品需要與溫度控制器、致冷控制器(選配)配套使用,配套的上位機(jī)溫控軟件方便進(jìn)行溫度設(shè)置及采集,提供的LabviewVis方便客戶進(jìn)行定制化編程。產(chǎn)品主要技術(shù)參數(shù): 1、
查看詳情根據(jù)客戶需求,果果儀器為浙江大學(xué)定制外置四探針冷熱臺(tái)。外置調(diào)節(jié)探針冷熱臺(tái)是一款針對(duì)材料在不同溫度下進(jìn)行電學(xué)測(cè)試而設(shè)計(jì)的產(chǎn)品,可表征材料升溫和降溫階段,其電學(xué)性能隨溫度變化的特征。該定制外置四探針冷熱臺(tái)通過(guò)調(diào)節(jié)外部探針臂,移動(dòng)內(nèi)部探針位置,進(jìn)行高精度的XYZ方向位移。采用液氮致冷、電阻加熱的方式,實(shí)現(xiàn)-190~400℃范圍內(nèi)精準(zhǔn)控制,可與電學(xué)儀表(如源表、萬(wàn)用表等)搭配集成,進(jìn)行變溫原位測(cè)試。 產(chǎn)品主要技術(shù)參數(shù): 1、外觀尺寸:160*150*35mm(以最終適配尺寸為準(zhǔn)) 2、溫度范圍:-1
查看詳情果果儀器科技(上海)限公司專精于溫控技術(shù),擁有探針冷熱臺(tái)、光學(xué)冷熱臺(tái)、原位拉伸、原位XRD/SEM冷熱臺(tái)、超高溫?zé)崤_(tái)、高低溫試驗(yàn)箱等多款技術(shù)產(chǎn)品,及介電溫譜、電卡、充放電測(cè)試、變溫D33等測(cè)試系統(tǒng)。
查看詳情